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大塚电子Otsuka分光干涉式晶圆膜厚仪，智能膜厚测量仪具备以下特点，为您解决所有烦恼：可随身携带至生产现场的手持式设计， 操作简便，新人也能轻松上手， 虽为手持设备却可实现高精度测量， 支持对三维样品进行无损检测。

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大塚电子Otsuk多样品纳米粒子径测试系统， nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。

大塚电子Otsuk多样品粒子径测量系统，产品信息特点nanoSAQLA的特点1个单元可轻松连续测量5个样品实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。

大塚电子Otsuk原装电位·粒径·分子量测量，产品信息 特点 使用了最新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间 通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度 可测量0～90℃大范围内的温度 追加了大范围的分子量测量。