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大塚电子Otsuk多样品纳米粒子径测试系统
  • 产品型号:nanoSAQLA
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-02-04
  • 访  问  量:54
简要描述:

大塚电子Otsuk多样品纳米粒子径测试系统, nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。

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产品详情

大塚电子Otsuk多样品纳米粒子径测试系统

大塚电子Otsuk多样品纳米粒子径测试系统

● nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量"的新产品。


产品信息 产品规格  测量示例

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特长

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的测量位置,实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作,简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的,没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能


测量范围(理论值)

● 粒径0.6nm~10μm

● 浓度范围 0.00001~40%

● 温度范围0~90℃*

代理品牌:

CCS晰写速 SEN日森、EYE岩崎、REVOX莱宝克斯、SERIC索莱克

SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林时计、NPM日脉

NS日本科学、TOKISANGYO东机、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山、EBARA荏原、ULVAC爱发科、TORAY东丽等

优势品牌:

USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龙、ORC欧阿西

SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂诘、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU电色、KKIMAC

S-VANS斯万斯、ORIHARA折原、LUCEO鲁机欧、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光学

AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA东亚电波、OKANO冈野

IMV艾目微、MITUTOYO三丰、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三荣

HEIDON新东、KURABO仓纺、SHOWA昭和、THINKY新基

SURUGA骏河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤,INTECS,RKC理化、MACOME码控美、EIWA荣和、EXCEL艾库斯、YODOGAWA淀川等





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