日本高质量T-DYLEC粒子采样器， 均匀收集颗粒，收集盘旋转。MOUDI II ™撞击体是一种精确的多级撞击器，按不同等级的颗粒粒径收集样品颗粒。通过使用多孔微孔喷嘴，可以抑制冲击器内部的流速和低压，从而最大限度地减少颗粒弹跳和再散射，提高颗粒收集效率。 通过旋转内置电机的收集盘，可以扩大收集面积，颗粒几乎均匀地收集在收集盘上。

日本高质量T-DYLEC粒子采样器

日本高质量T-DYLEC粒子采样器

带有可替换DMA的机动分类器

概述

静电分级仪3082型被设计为一个现代化控制平台，用于控制专用的DMA（差分移动分析仪）。该型号与前一代（型号3080）不同，带来了多项优势，如更便捷的设备设置、新触摸面板的作性提升以及设备内数据记录的能力。DMA可根据靶粒粒径从三种选项中选择：LongDMA3081A、NanoDMA3085A和1nmDMA3086。 通过选择3082和DMA以及一个冷凝液计数器CPC，它也可以用作扫描移动性颗粒分成器SMPS（型号3938系列）。它能够高精度地从多分散气溶胶中分段提取纳米级~单色散气溶胶。*美国国家标准与技术研究院（NIST）使用TSI的Long-DMA来分类0.1微米标准颗粒。

特色

新触摸面板提升作性

比传统型号更小更轻

颗粒尺寸分布数据可存储于内部，且可通过USB端口传输

快速扫描所需的精确DMA供电电压（10秒）

更高的可配置护套流量提升尺寸分辨率

自动DMA识别

DMA电源电压极性可更改（可选）*标准为阴极

应用示例

通过多分散粒子的尺寸调整进行单粒化。

尺寸测定已校准粒子，如颗粒测量仪器

气溶胶研究中粒子行为、扩散、聚集、成核和凝结的研究。

关于粒子电荷和电传递的研究。

规格