日本T-DYLEC扫描型纳米颗粒粒径分布测量仪器3938E57的操作应用

日本T-DYLEC扫描型纳米颗粒粒径分布测量仪器3938E57的操作应用

TSI的SMPS™被广泛用作确定小于1微米气溶胶颗粒粒径分布的标准。 SMPS型号3938E57主要产品包括1纳米CPC型号3757-50和1纳米DMA型号3086，能够测量从1纳米以下的颗粒尺寸分布。

通过在近期的SMPS基础上加入Model 3757纳米增强器和Model 3086差分迁移分析仪（1 nm-DMA），SMPS的可测量范围已扩展至仅1纳米。

特色

高分辨率数据：每十年64个通道（109个通道，颗粒粒径分布为1~50纳米）

灵活元件设计

测量颗粒尺寸范围较宽：可测量范围为1~50纳米

加入3081A长DMA，其波长可测量3个十年，范围为1纳米至1000纳米。

扩散损耗的较优系统

可通过专用软件Aerosol Instrument Manager（AIM）操作

颗粒测量：能够测量各种样品