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日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统
  • 产品型号:GP
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-03-03
  • 访  问  量:74
简要描述:

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统,智能膜厚测量仪具备以下特点,为您解决所有烦恼:可随身携带至生产现场的手持式设计, 操作简便,新人也能轻松上手, 虽为手持设备却可实现高精度测量, 支持对三维样品进行无损检测。

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联系电话:0512-66615508

产品详情

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统

产品信息

特 点

使用的光谱仪实现高精度测量

精度高的原因

● 使用的高性能多通道光谱仪(型号:MCPD)对光谱进行解析
● 可获取较多的透过率信息 实现高精度测量
(获得的透射率信息约为 500 波长,是其他公司产品的约50 倍)。

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统
日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统
日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统


超高相位差测量-超双折射薄膜可高速、高精度测量

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统

轴角度补正功能-即使样品放置有偏离,也可轻松、再现性良好的进行测量

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统

便捷的软件-极大缩短测量时间与处理时间,操作性大幅UP

日本精品大塚电子Otsuka分光配光测量系统

产品规格

测量项目(薄膜、光学材料)

相位差(波长分散)、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等

测量项目(偏光片)

吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等

测量项目(液晶cell)

cell gap、预倾角*1 、扭曲角、配向角等

位相差测量范围

0~60,000nm

相位差重复性

3σ≦0.08nm(水晶波长板 约600nm)

cell gap 测量范围

0~600μm(Δn=0.1时)

cell gap 重复性

3σ≦0.005μm(cell gap 约3μm、Δn=0.1时)

轴检测重复性

3σ≦0.08°(水晶波长板 约600nm)

测量波长范围

400~800nm(其他可选)

检测器

多通道光谱仪

测量径

φ2㎜(标准规格)

光源

100W halogen lamp

数据处理部

个人计算机、显示器

样品台尺寸:标准

100㎜×100㎜(固定样品台)

option

·超高相位差测量
·多层测量
·轴角度补正功能
· 自动XY样品台·自动倾斜旋转样品台



















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