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日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜
  • 产品型号:1
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-03-03
  • 访  问  量:72
简要描述:

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜,智能膜厚测量仪具备以下特点,为您解决所有烦恼:可随身携带至生产现场的手持式设计, 操作简便,新人也能轻松上手, 虽为手持设备却可实现高精度测量, 支持对三维样品进行无损检测。

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产品详情

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜

您在测量膜厚时是否曾遇到过这些困扰?
“无法在现场即时完成测量"“测量结果因人而异"“测量精度不尽如人意"?
智能膜厚测量仪具备以下特点,为您解决所有烦恼:
● 可随身携带至生产现场的手持式设计
● 操作简便,新人也能轻松上手
● 虽为手持设备却可实现高精度测量
● 支持对三维样品进行无损检测

产品信息

特点

● 可携带至现场的手持式

● 可测量0.1μm单位

● 具有形状的样品也可非破坏的测量

● 不论基材材质、可测量其镀膜


测量项目

膜厚测量范围

1μm~50μm

测量重复性

0.01μm

测量时间

1秒以下


手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较

●与桌上型光学膜厚仪相比,Smart膜厚仪在“现场"以非破坏式直接量测样品,且可以量测特殊形状样品。

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜


●与接触式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品,也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜

●与涡电流/电磁式膜厚仪相比,Smart膜厚仪不需要制作检量线,且可以量测非金属基材并且得到

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜

不需要量测经验,可快速得到精准的膜厚结果。

日本大塚电子Otsuka光波动场三次元显微镜


规格样式

量测原理

反射分光法(光干涉法)、非破坏性量测

膜厚量测范围

1~50μm(显示上限60μm)

重复精度

2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm)

量测时间

1秒内

量测层数

1层

数据输出

附属操作屏幕显示或以USB输出Excel档案

量测Spot

Φ1mm以下

重量

约1.1kg













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