日本优选T-DYLEC高分辨率电子低压撞击器，Dekati ELPI+（电低压撞击器）广泛用于实时颗粒大小分布测量，并已验证其性能。 ELPI+能够实时测量颗粒尺寸分布和颗粒浓度，测量范围为6 nm~10微米，采样率为10 Hz。

日本精品T-DYLEC静电分类仪，静电分级仪3082型被设计为一个现代化控制平台，用于控制专用的DMA（差分移动分析仪）。该型号与前一代（型号3080）不同，带来了多项优势，如更便捷的设备设置、新触摸面板的作性提升以及设备内数据记录的能力。

日本高质量T-DYLEC静电分类仪，静电分级仪3082型被设计为一个现代化控制平台，用于控制专用的DMA（差分移动分析仪）。该型号与前一代（型号3080）不同，带来了多项优势，如更便捷的设备设置、新触摸面板的作性提升以及设备内数据记录的能力。

日本高效率T-DYLEC静电分类仪，静电分级仪3082型被设计为一个现代化控制平台，用于控制专用的DMA（差分移动分析仪）。该型号与前一代（型号3080）不同，带来了多项优势，如更便捷的设备设置、新触摸面板的作性提升以及设备内数据记录的能力。

日本优选T-DYLEC快速响应颗粒剪辑仪，实时测量发动机发射的颗粒数量及颗粒尺寸分布。

日本原装T-DYLEC实时自发颗粒分析仪，实时测量发动机发射的颗粒数量及颗粒尺寸分布。

进口T-DYLEC1场纳米粒子测量系统纳米扫描，紧凑便携高性能颗粒粒径分布测量仪器，3910 Nanoscan SMPS配备了TSI核心技术，使其更轻巧、更紧凑，并内置电池，相比之前的SMPS系列，提升了多种测量环境的作性。

T-DYLEC1 nm 扫描迁移度颗粒分成仪 1 nm，扫描纳米颗粒粒径分布测量仪器，测量范围扩展至1纳米范围。

神崎原装T-DYLEC扫描移动性颗粒分，SMPS型号3938系列是一款自动化连续颗粒尺寸分布测量设备，能够连续测量1~1000纳米亚微米范围内的颗粒，分辨率高达每十年128个通道。 该仪器的一个主要特点是可以根据研究目的自由组合四种类型的DMA（静电分类器）和五种类型的CPC（凝聚粒子计数器）。

日本进口T-DYLEC LiquiScan 系统，LiquiScan系统是一种设计用于快速且高分辨率测量各种材料的粒径分布的设备，如胶体纳米颗粒、蛋白质、高分子材料、CMP浆液和最小至2 nm~的墨水溶液。颗粒分类与计数的结合使该系统即使在混合样品中也能以高颗粒分辨率测量细粒尺寸信息。还可以检测极少量的聚集体，获得有用的污染测量数据。