新品到货！MCPD-6800 OTSUKA 大塚电子分光光度计光学检测

新品到货！MCPD-6800 OTSUKA 大塚电子分光光度计光学检测

光学薄膜、LED、滤光片、显示行业实验室常需要一台通用性强的光纤式光谱检测设备。日本 OTSUKA 大塚电子 MCPD-6800 多通道光谱仪，属于 MCPD 系列经典基础款分光检测设备，搭载电子冷却型 512 通道光电二极管阵列，平面场分光光学结构，可搭配光纤、积分球、显微单元灵活搭建测量光路，广泛用于样品光学性能离线检测。本文整理 MCPD-6800 完整光学规格、可测项目、选配模块与选型要点。

一、核心光学硬件规格

1. 分光结构：平面场型光栅分光器

2. 探测器：电子冷却型 512ch 光电二极管阵列，降低暗电流，提升长时间测量稳定性

3. 积分测量时间：16ms～65s

4. 通讯接口：USB、LAN 双接口，可连接电脑上位机采集光谱数据

5. 标准光斑：φ1.2mm（可搭配显微光学单元缩小测量光斑）

> 四种波长模块可选（按需选配，模块不可后期直接更换）

- 2285C：220～850nm，紫外 - 可见光波段

- 3095C：300～950nm，紫外到近可见光

- 3683C：360～830nm，可见光，像素分辨率 1.1nm / 像素

- 3610C：360～1000nm，可见光延伸至近红外

二、支持测量项目

- 发射光谱：LED、背光、光源光谱辐射评价

- 透射 / 吸收光谱：光学滤光片、透明薄膜、基板透过率测试

- 反射光谱：光学膜、镀膜、金属基板反射率检测

- 荧光光谱：荧光材料、荧光膜发光特性测试

- 色度测量：样品颜色、光源色坐标、亮度、照度

- 薄膜厚度：分光干涉法测膜厚，折射率 n=1.5 基准下，膜厚测量范围 65nm~50μm（随波长模块不同有差异）

- 相位差、等离子体发射光谱检测

三、膜厚测量参数

- 2285C：65nm～35μm

- 3095C：65nm～50μm

- 3683C：65nm～45μm

- 3610C：65nm～49μm