新品发布！我司近期到货日本原装大塚电子Otsuka高速相位差测量装置RE-200

新品发布！我司近期到货日本原装大塚电子Otsuka高速相位差测量装置RE-200

特点

● 可测从0nm开始的低（残留）相位差

● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)（最快速的0.1秒以下来处理）

● 无驱动部，重复再现性高

● 设置的测量项目少，测量简单

● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长

● Rth测量、角测量（需要option的自动旋转倾斜治具）

● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性(本系统属特注。）

测量项目

● 相位差（ρ[°], Re[nm]）

● 主轴方位角（θ[°]）

● 椭圆率（ε），方位角（γ）

● 三次元折射率（NxNyNz）

用途

● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜

● 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

原理

● 什么是RE-200

● RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。